低本底多道γ能譜儀技術指標

1. 探測器：（φ75×75）mm的NaI(Tl)晶體

2. 總道數：1024、2048道，實際應用道數：2048道

3. 能量分辨率：＜7.5%(137Cs)

4. 儀器本底：≤5.0cps(50kev ~ 3Mev)

5. 單次循環測量樣品數量：24(可擴展外接樣品架)

6. 電機重復定位精度：≤±0.1mm

7. 微分非線性：＜0.05%

8. 積分非線性：＜0.10%

9. 穩定性：相對誤差 ≤ 1.0% (24h)

10. 脈沖對分辨率：500ns

11. 檢出限

226Ra：8.0 Bq/kg

232Th：6.0 Bq/kg

40K：20.0 Bq/kg

222Rn(空氣)：6.0 Bq/m3

222Rn(土壤)：300.0 Bq/m3

12. 測量擴展不確定度：<10% (核素放射性活度 >37Bq/kg)

13. 使用環境

環境溫度：（+5～+40）°C

相對濕度：≤90%（+40°C）

14. 電源：交流220V (±10%)，50Hz

15. 外形尺寸和重量：

鉛室：(ф580×850)mm，壁厚100mm，約900kg

換樣設備(L×W×H)：1300×850×1300mm，約200kg

能譜儀測試原理

當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的較低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線光子的能量越高，N就越大。利用加在晶體兩端的偏壓收集電子空穴對，經過前置放大器轉換成電流脈沖，電流脈沖的高度取決于N的大小。電流脈沖經過主放大器轉換成電壓脈沖進入多道脈沖高度分析器，脈沖高度分析器按高度把脈沖分類進行計數，這樣就可以描出一張X射線按能量大小分布的圖譜。

伽瑪能譜儀相關介概述

能譜儀是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。各種元素具有自己的X射線特征波長，特征波長的大小則取決于能級躍遷過程中釋放出的特征能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子特征能量不同這一特點來進行成分分析的。

一般為Si(Li)鋰硅半導體探頭, 探測面積為幾平方毫米，當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的較低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線光子的能量越高，N就越大。

低本底多道Y 能譜儀

低本底多道Y 能譜儀儀器指標完全符合質量技術發布實施的要求。是建材、土壤、生物、地質樣品等Y 能譜測量分析，空氣中、土壤中氫濃度的測量分析，建筑材料的快速無損檢測，環境輻射水平調查，核設施周圍環境 y 輻射監測，鈾礦地質樣品鈾、鐳、針、鉀含量的分析的理想工具。目前采用輸出信號直通采集方式,波形無畸變;全波采集,無脈沖漏計,具有基線修正,干擾識別等智能化功能,實現高質量能譜數據采集。