5分鐘前 精密制樣設(shè)備價格服務(wù)為先「蘇州特斯特」[蘇州特斯特31ff5f9]內(nèi)容：EMMI可廣泛應(yīng)用于偵測各種組件缺陷所產(chǎn)生的漏電流，包括閘極氧化層缺陷(Gate oxide defects)、靜電放電破壞(ESD Failure)、閂鎖效應(yīng)(Latch Up)、漏電(Leakage)、接面漏電(Junction Leakage) 、順向偏壓(Forward Bias)及在飽和區(qū)域操作的晶體管，可藉由EMMI定位，找熱點(Hot Spot 或找亮點)位置，進(jìn)而得知缺陷原因，幫助后續(xù)進(jìn)一步的失效分析。

微光顯微鏡光發(fā)射顯微鏡是器件分析過程中針對漏電失效模式，的分析工具。器件在設(shè)計、生產(chǎn)制造過程中有絕緣缺陷，或者期間經(jīng)過外界靜穿，均會造成器件漏電失效。漏電失效模式的器件在通電得狀態(tài)下，內(nèi)部形成流動電流，漏電位置的電子會發(fā)生遷移，形成電能向光能的轉(zhuǎn)化，即電能以光能的方式釋放，從而形成200nm~1700nm紅外線。光發(fā)射顯微鏡主要利用紅外線偵測器，通過紅外顯微鏡探測到這些釋放出來的紅外線，從而的定位到器件的漏電點。

顯微觀察技術(shù)是一-種可以提供化學(xué)鍵合以及材料的分子結(jié)構(gòu)的相關(guān)信息的失效分析技術(shù)，不論對象是有機物還是無機物。通常被用來確定樣品表面的未知材料，一般是用作對EDX分析的補充。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測試、檢測儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù)，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測試與檢測。