光學(xué)平板

目前,市場上使用的平板測微器有兩種 :光學(xué)平板測微器和電子讀數(shù)平板測微器；其中,電子讀數(shù)平板測微器有多種形式,如直接測量光學(xué)平板轉(zhuǎn)動的角量式電子讀數(shù)平板測微器以及先用機(jī)構(gòu)把光學(xué)平板轉(zhuǎn)動的角量變?yōu)橹本€運(yùn)動的線量,再測量所述線量的電容式和電子讀數(shù)平板測微器。電容式電子讀數(shù)平板測微器,不能承受野外作業(yè)的惡劣環(huán)境,同時(shí)每測量一次必須置一次零位,造成使用儀器的較大不便,如果一次疏忽沒有置零,將造成整個(gè)測量工作的前功盡棄,但其功耗小,適用于野外測量。

光學(xué)平板

光學(xué)平臺的硬重比對于其共振頻率有著重要的影響。較高的硬重比可以提高平臺的共振頻率，從而降低其在外界影響下的振動。而且在外力作用下，具有較高硬重比的平臺可以在較小的重量下產(chǎn)生較小的變形，增加系統(tǒng)內(nèi)部的剛性。內(nèi)部采用蜂窩狀支撐結(jié)構(gòu)的光學(xué)平臺可以充分的提高硬重比，達(dá)到提高系統(tǒng)性能的目的。精密光學(xué)平臺分為兩大類：氣囊減振及機(jī)械阻尼減振，氣囊減振可獲得較低的頻率

大理石平臺的特點(diǎn)

①大理石平板組織結(jié)構(gòu)稠密、表面光滑、粗糙度數(shù)值小；

②大理石經(jīng)長期時(shí)效，內(nèi)應(yīng)力消失，材質(zhì)穩(wěn)定，不會變形；

③耐酸、耐堿、蝕、抗磁；

④不會受潮生銹，使用、維護(hù)方便；

⑤線脹系數(shù)小，受溫度影響小；

⑥工作面受碰撞或劃傷后，只會產(chǎn)生凹坑，不產(chǎn)生凸紋、毛刺，對測量精度無影響。

大理石平板是用大理石材料做成的平板，所用大理石材料為具有顆粒、結(jié)構(gòu)致密的花崗石、輝綠巖、輝長巖等自然界的堅(jiān)硬大理石。

大理石平臺多種多樣的用途

一、大理石平臺可用于測量器件的高度，因?yàn)樵摲N量具是水平的，正如我們平時(shí)測量的時(shí)候要先找到基準(zhǔn)面，方能準(zhǔn)備測出建筑物的高度一樣。這種平板同樣可以作為測量的基準(zhǔn)面，使用方法就是要將需要測量的物體加上它的量表座一起放在這種平板上，接著將它與大理石平臺進(jìn)行比較，然后就能測出物件的高度了。

二、除了測量高度，大理石平臺同時(shí)可以測量一樣物體是否與另一物體能夠保持平行。它可以作為一個(gè)基準(zhǔn)面來測量物體的平行度。使用方法如下，先要先固定物體的量表座，然后同理也是將需要測量平行度的物體放在這種平板身上，就可以開始進(jìn)行檢查了。

三、除了高度和平行度，大理石平臺還可以用來幫助測量角度，使用方法與上述二者類似。

四、還有就是如果器件中需要?jiǎng)澮恍┑木€，這時(shí)候就可以借助劃線的平板了。

五、大理石平臺也可以用來繪制刻度線，使測量 加簡易方便。