絲印產(chǎn)品缺陷檢測(cè)設(shè)備技術(shù)性的主要特點(diǎn)：1.快速監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，與PCB板帖裝相對(duì)密度不相干。2.迅速方便快捷的程序編寫系統(tǒng)軟件，用戶界面下開展，應(yīng)用帖裝數(shù)據(jù)信息全自動(dòng)開展數(shù)據(jù)信息檢驗(yàn)，應(yīng)用元器件數(shù)據(jù)庫查詢開展檢驗(yàn)數(shù)據(jù)信息的迅速編寫。3.應(yīng)用豐富多彩的多用途檢驗(yàn)優(yōu)化算法和二元或灰度級(jí)水準(zhǔn)電子光學(xué)顯像解決技術(shù)性開展檢驗(yàn)。4.依據(jù)被檢驗(yàn)元器件部位的一瞬間轉(zhuǎn)變 開展檢驗(yàn)對(duì)話框的自動(dòng)化技術(shù)校準(zhǔn)，做到高精密檢驗(yàn)。5.根據(jù)用黑墨水立即標(biāo)識(shí)于PCB板上或在實(shí)際操作顯示屏上放圖型不正確表明來開展檢驗(yàn)電的核查。

傳統(tǒng)式人力人眼翻閱視覺檢測(cè)方法主觀大，誤檢、漏驗(yàn)率高。圖像處理的絲印產(chǎn)品缺陷檢測(cè)設(shè)備具備高精度、速度更快、無觸碰的優(yōu)勢(shì)，可以擺脫人力檢驗(yàn)的缺點(diǎn)，在顯示屏視覺檢測(cè)領(lǐng)域有優(yōu)良的應(yīng)用前景，過去道的ITO夾層玻璃檢驗(yàn)、背光模組檢驗(yàn)，到Cell迎合、LCD摸組的COG機(jī)器設(shè)備、對(duì)合迎合、自動(dòng)切割機(jī)、鐳射激光探測(cè)設(shè)備等，都離不了AOI有關(guān)機(jī)器設(shè)備；與此同時(shí)LCD和OLED的檢驗(yàn)、檢測(cè)和檢修全過程也務(wù)必與LCD機(jī)器設(shè)備的高生產(chǎn)制造速率相符合,這一規(guī)定促使LECD和OLED生產(chǎn)商在新式顯示屏必須高精密鑒別機(jī)器設(shè)備，可能帶動(dòng)對(duì)AOI的要求。LCD和OLED易受各種各樣缺點(diǎn)的危害,在其中很多是因?yàn)樯a(chǎn)制造中應(yīng)用的堆積、光刻技術(shù)和蝕刻而致。在生產(chǎn)過程中檢驗(yàn)和修補(bǔ)這種缺點(diǎn)使生產(chǎn)商可以改善對(duì)其生產(chǎn)過程的監(jiān)控,防止成本費(fèi)進(jìn)一步價(jià)格昂貴的原材料并大大提高其生產(chǎn)量。

比如，當(dāng)絲印產(chǎn)品缺陷檢測(cè)設(shè)備檢驗(yàn)?zāi)骋稽c(diǎn)焊時(shí)，依照一個(gè)完好無損的點(diǎn)焊創(chuàng)建起規(guī)范智能化圖象，與評(píng)測(cè)圖象開展較為，檢驗(yàn)結(jié)果是根據(jù)或是不通過，在于規(guī)范圖象、分辨率和常用檢驗(yàn)程序流程。圖形識(shí)別中會(huì)使用各種各樣優(yōu)化算法，如求黑占白的占比、五顏六色、生成、求均值、求饒、求差、求平面圖、求邊緣等。根據(jù)光源直射至焊錫絲/電子器件的表層，以后光源反射面到攝像鏡頭中，造成二維圖象的三維表明，來體現(xiàn)點(diǎn)焊/電子器件的高寬比和偏色。人見到和了解物件是根據(jù)光源反射面回家的量開展分辨，反射面量多見亮，反射面量少為暗。