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由于電子本能會(huì)尋求穩(wěn)定,外層L層或M層的電子會(huì)進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層的過(guò)程中,它們會(huì)釋放出能量,我們稱之為二次X射線光子。而整個(gè)過(guò)程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過(guò)程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。例如,鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時(shí)間內(nèi)所出來(lái)的X射線的數(shù)量或者密度,能夠用來(lái)衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時(shí)光子密度的分布情況。
不需要每天標(biāo)定儀器,開(kāi)機(jī)即可檢測(cè),大大提高生產(chǎn)效率,并降低了對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的依賴
?多重儀器硬件保護(hù)系統(tǒng),并可通過(guò)軟件進(jìn)行全程實(shí)時(shí)監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全
?特別設(shè)計(jì)的光路和真空系統(tǒng)提高了輕元素的測(cè)試靈敏度3-5倍(Na, Mg, Al, Si, P)
?友好的用戶界面,可定制的分析報(bào)告,可一鍵打印測(cè)試報(bào)告,包括分析結(jié)果,樣品信息,光譜信息和樣品圖像
?八種光路準(zhǔn)直系統(tǒng),根據(jù)不同樣品大小自動(dòng)切換,亦可測(cè)試樣品不同位置再求平均值,降低樣品不均勻性造成的誤差
?高清內(nèi)置攝像頭,清晰地顯示儀器所檢測(cè)的樣品部位