1分鐘前 鶴崗EDX8000T Plus鍍層測厚儀歡迎來電「英飛思科學」[英飛思科學66089b4]內容：

>鍍鉻，例如帶有裝飾性鍍鉻飾面的塑料制品

>鋼上鋅等防腐涂層

>電路板和柔性PCB上的涂層

>插頭和電觸點的接觸面

>電鍍液分析

>鍍層，如金基上的銠材料分析

>電鍍液分析

>分析電子和半導體行業的功能涂層

>分析硬質材料涂層，例如 CrN、TiN 或 TiCN

>可拓展增加RoHS有害元素分析功能

英飛思XRF鍍層測厚儀優勢

>微光斑X 射線聚焦光學器件

通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區域，實現高精度測量。

>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統

高計數率硅漂移檢測器可實現高精度測量。

>高分辨率樣品觀測系統

的點位測量功能有助于提高測量精度。

>全系列標配薄膜FP無標樣分析法軟件，可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量

配合用戶友好的軟件界面，可以輕松地進行日常測量。

⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。⒍測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。⒎在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數。⒏在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。