蘇州英飛思科學儀器有限公司，英文名字：Efficiency Scientific Instrument Co.,Ltd.

公司logo和英文縮寫為ESI。

英飛思ESI坐落于美麗而現代的蘇州工業園。

XRF鍍層測厚儀工作原理鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒-30秒內完成。

英飛思XRF鍍層測厚儀優勢

>微光斑X 射線聚焦光學器件

通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區域，實現高精度測量。

>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統

高計數率硅漂移檢測器可實現高精度測量。

>高分辨率樣品觀測系統

的點位測量功能有助于提高測量精度。

>全系列標配薄膜FP無標樣分析法軟件，可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量

配合用戶友好的軟件界面，可以輕松地進行日常測量。

全系列標配薄膜FP無標樣分析法軟件，可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量配合用戶友好的軟件界面，可以輕松地進行日常測量。材料的鍍層厚度是一個重要的生產工藝參數，其選用的材質和鍍層厚度直接影響了零件或產品的耐腐蝕性、裝飾效果、導電性、產品的可靠性和使用壽命，因此，鍍層厚度的控制在產品質量、過程控制、成本控制中都發揮著重要作用。