5分鐘前 自動(dòng)燒錄設(shè)備承諾守信「蘇州特斯特」[蘇州特斯特31ff5f9]內(nèi)容：超聲波掃描顯微鏡原理；利用脈沖回波的性質(zhì)，激勵(lì)壓電換能器發(fā)射出多束通過(guò)耦合液介質(zhì)傳遞到被測(cè)樣品，在經(jīng)過(guò)不同介質(zhì)時(shí)會(huì)發(fā)生折射、反射等現(xiàn)象，通過(guò)阻抗不同的材料時(shí)會(huì)發(fā)生波形相位、能量上的變化等現(xiàn)象，經(jīng)過(guò)一系列數(shù)據(jù)計(jì)算形成灰度值圖片，可用來(lái)分析樣品內(nèi)部狀況。作為無(wú)損檢測(cè)分析中的一種，它可以實(shí)現(xiàn)在不破壞物料電氣能和保持結(jié)構(gòu)完整性的前提下對(duì)物料進(jìn)行檢測(cè)。被廣泛的應(yīng)用在物料檢測(cè)（IQC）、失效分析（FA）、破壞性物理分析（DPA）、可靠性分析、元器件二次篩選、質(zhì)量控制(QC)、及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領(lǐng)域。

超聲波掃描顯微鏡，英文名是：Scanning Acoustic Microscope，簡(jiǎn)稱(chēng)SAM，由于它的主要工作模式是C模式，因此也簡(jiǎn)稱(chēng)：C-SAM或SAT。北軟檢測(cè)SAT頻率高于20KHz的聲波被稱(chēng)為超聲波。超聲波掃描顯微鏡是理想的無(wú)損檢測(cè)方式，廣泛的應(yīng)用在物料檢測(cè)（IQC）、失效分析（FA）、質(zhì)量控制(QC)、及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領(lǐng)域。檢測(cè)電子元器件、LED、金屬基板的分層、裂紋等缺陷（裂紋、分層、空洞等）；通過(guò)圖像對(duì)比度判別材料內(nèi)部聲阻抗差異、確定缺陷形狀和尺寸、確定缺陷方位。

體視顯微鏡OM無(wú)損檢測(cè)

體視顯微鏡，亦稱(chēng)實(shí)體顯微鏡或解剖鏡。是一種具有正像立體感的目視儀器，從不同角度觀察物體，使雙眼引起立體感覺(jué)的雙目顯微鏡。對(duì)觀察體無(wú)需加工制作，直接放入鏡頭下配合照明即可觀察，成像是直立的，便于操作和解剖。視場(chǎng)直徑大，但觀察物要求放大倍率在200倍以下。顯微鏡可用于電子精密部件裝配檢修，紡織業(yè)的品質(zhì)控制的輔助鑒別及各種物質(zhì)表面觀察等領(lǐng)域，實(shí)現(xiàn)樣品外觀、形貌檢測(cè) 、制備樣片的觀察分析、封裝開(kāi)帽后的檢查分析和晶體管點(diǎn)焊檢查等功能。< br />< br />著作權(quán)歸作者所有。