C 掃描成像原理

比方100*100的一個(gè)矩形工件，用C掃描掃查，每1mm*1mm記錄一個(gè)A掃描波形，100*100需要記錄10000個(gè)A掃描波形，根據(jù)這10000個(gè)A掃描波形的高低不同生成C掃描圖像，這就是C掃描成像的原理，也是對(duì)C掃描成像原理形象的解釋。

期望大家在選擇C掃描檢測(cè)的公司時(shí)多一份細(xì)心，少一份浮躁，不要錯(cuò)過(guò)細(xì)節(jié)疑問(wèn)。想要了解更多C掃描檢測(cè)的資訊，歡迎撥打網(wǎng)站上的熱線電話！！！

C 掃描優(yōu)勢(shì)

優(yōu)勢(shì)一：“點(diǎn)聚焦探頭”讓超聲能量高度集中，可以檢測(cè)出更細(xì)微的缺陷

C掃描使用點(diǎn)聚焦探頭，如圖1點(diǎn)聚焦探頭示意圖，通過(guò)探頭中的透鏡，把一束超聲波聚焦為1個(gè)點(diǎn)，能量高度集中，能發(fā)現(xiàn)更細(xì)微缺陷；

圖2 是實(shí)測(cè)的點(diǎn)聚焦探頭的聲場(chǎng)圖，檢測(cè)時(shí)把板厚置于焦柱范圍內(nèi)即可，制作探頭時(shí)焦柱長(zhǎng)度可控制在5~50mm。

圖1：點(diǎn)聚焦探頭示意圖

圖2：點(diǎn)聚焦探頭實(shí)測(cè)聲場(chǎng)圖

優(yōu)勢(shì)二：“密集的步距”保證了掃查的高度精細(xì)化

常規(guī)A掃探傷時(shí)，步距一般是探頭晶片的尺寸，一般是10~20mm

但C掃描一般控制在0.1~3之間，當(dāng)然步距太小會(huì)極大地降低檢測(cè)效率。

比如：如果人工檢測(cè)，用直徑20mm的探頭檢測(cè)，100*100的區(qū)域一般觀察25個(gè)點(diǎn)。C掃描選擇1mm步距時(shí)，是記錄了10000個(gè)點(diǎn)

25個(gè)點(diǎn)和10000個(gè)點(diǎn)相比，掃查的精細(xì)化顯而易見(jiàn)

超聲C掃描檢測(cè)設(shè)備

超聲C掃描檢測(cè)方式通常采用常規(guī)超聲探頭+雙軸掃查器的方式，但是隨著相控陣超聲技術(shù)及計(jì)算機(jī)技術(shù)的快速崛起，誕生了以超聲相控陣技術(shù)的C掃描檢測(cè)技術(shù)，即超聲相控陣多陣元探頭+雙軸掃查器的方式。相控陣超聲C掃描系統(tǒng)具有更高的精度和缺陷檢出率，更快的檢測(cè)速度和更高的圖像分辨率等優(yōu)點(diǎn)，因此其具有更高的發(fā)展空間，必定是今后超聲C掃描檢測(cè)的主流。