對比試樣校準(zhǔn)測量前的準(zhǔn)備

1. 對比試樣的人工缺陷應(yīng)使用酒精或C?H?O進(jìn)行清洗，用濾紙擦干，保持表面清潔，無銹蝕、金屬屑、毛刺、污染物等影響測量的缺陷。

2. 將對比試樣人工缺陷平行放置在載物臺(tái)上(必要時(shí)使用合適的工裝予以固定)，調(diào)整試樣，使人工槽長度或?qū)挾确较蚺c顯微測量設(shè)備的X或Y軸平行。

3. 顯微鏡在合適的明場條件下，先用低放大倍數(shù)（10×或20×）找到人工缺陷位置，再換至高放大倍數(shù)對試樣聚焦，調(diào)整載物臺(tái)及試樣，使人工缺陷處于視場中央。調(diào)整測量設(shè)備，使測量面聚焦清晰，選擇測量點(diǎn)位。

對比試樣校準(zhǔn)概述

是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的厚度計(jì)；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì)；有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì)；還有利用機(jī)械接觸式測量原理的測厚儀等。用于測定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構(gòu)件在制造和檢修時(shí)必須測量其厚度，以便了解材料的厚薄規(guī)格，各點(diǎn)均勻度和材料腐蝕、磨損程度；

對比試樣校準(zhǔn)測量結(jié)果差別大？

探頭的放置方法對測量有很大影響，在測量中應(yīng)使探頭與被測件外表堅(jiān)持筆直。而且探頭的放置時(shí)刻不宜過長，避免形成基體本身磁場的攪擾。測量時(shí)不要拖動(dòng)探頭，由于這么不僅對探頭會(huì)形成磨損，也不會(huì)得到的測量成果。別的，基體金屬被磁化、基體金屬厚度過小、工件曲率過小、測量基座外表有銹蝕、測量現(xiàn)場周圍有電磁場攪擾等要素都有也許致使測量成果的反常，假如離電磁場十分近時(shí)還有也許會(huì)死機(jī)。

對比試樣校準(zhǔn)使用注意事項(xiàng)

1.在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。　　

2.在測量的時(shí)候要注意，側(cè)頭與試樣表面保持垂直。　　

3在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。　

4.在測量的時(shí)候要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時(shí)不可靠的。