CT檢測原理

工業(yè)CT是在射線檢測的基礎上發(fā)展起來的，其基本原理是：讓一束X射線投射在物體上，通過物體對X射線的吸收（多次投影）便可獲得物體內(nèi)部的物質(zhì)分布信息。

當強度為I0的一個窄束X射線穿過吸收系數(shù)為的物體時，其強度滿足指數(shù)衰減關系：

式中為X射線所穿過物質(zhì)層厚度。在實際情況中，所研究的物體往往不是由單一成分組成的，當物體由若干個不同成分組成時，物體內(nèi)部各處的穿透率也將可能不同。

CT檢測同位素輻射源

同位素輻射源的優(yōu)點是它的能譜簡單，消耗電能少，設備體積小且相對簡單，而且輸出穩(wěn)定。但是其缺點是輻射源的強度低，為了提高源的強度必須加大源的體積，導致“焦點”尺寸增大。在工業(yè)CT中較少實際應用。

同步輻射本來是連續(xù)能譜，經(jīng)過單色器選擇可以得到定向的幾乎單能的高強度X射線，因此可以做成高空間分辨率的CT系統(tǒng)。但是由于射線能量為20KeV到30KeV，實際只能用于檢測1mm左右的小樣品，用于一些特殊的場合。

CT檢測常用掃描方式介紹

工業(yè)CT常用的掃描方式是平移—旋轉(TR)方式和只旋轉(RO)方式兩種。只旋轉掃描方式無疑具有更高的射線利用效率，可以得到更快的成像速度；然而，平移—旋轉的掃描方式的偽像水平遠低于只旋轉掃描方式；可以根據(jù)樣品大小方便地改變掃描參數(shù)（采樣數(shù)據(jù)密度和掃描范圍），特別是檢測大尺寸樣品時其優(yōu)越性更加明顯；源—探測器距離可以較小，提高信號幅度；以及探測器通道少可以降低系統(tǒng)造價便于維護等。