AEC機構(gòu)的會員有技術(shù)會員和yongjiu會員之分，技術(shù)會員通常為芯片企業(yè)而yongjiu會員則通常為車機公司。

芯片工況環(huán)境決定其溫度等級，并所有AEC-Q100試驗按此溫度條件進行。陳大為介紹到，新版AEC-Q100zui高工作溫度范圍(Level 0)是- 40℃～150℃，zui低范圍(Level 3)是- 40℃～85℃，中間還有兩個級別分別是Level 1 ：工作溫度范圍 - 40℃～125℃(一般等級)、Level 2 ：工作溫度范圍 - 40℃～105℃。AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)當(dāng)中沒有別的要求，主要是溫度不一樣。

車規(guī)MCU芯片測試與認(rèn)證

具體到車規(guī)MCU芯片測試與認(rèn)證，有以下幾個方面的考慮：

1、測試策略，需要quan方位、無死角、多維度地對MCU進行che底、嚴(yán)格細(xì)致的分析。包括基本電參數(shù)的測試，基本功能的驗證，可靠性的試驗驗證，實際使用條件的驗證以及供貨保障等。尤其在供貨保障方面，汽車需要15年供貨期，而對于普通芯片不能一粒材料連續(xù)生產(chǎn)15年，因此不是繼續(xù)生產(chǎn)就不行，或者是一次性生產(chǎn)完再搞庫存，在此又出現(xiàn)了一個倉儲問題。

EMC是車規(guī)重中之重，

但對于芯片沒有判別標(biāo)準(zhǔn)

在車規(guī) MCU 芯片測試與認(rèn)證中，陳大為重點介紹了電磁兼容(EMC)，這對于整車、整機或部件的電子兼容考慮得比較多。到目前為止，IEC標(biāo)準(zhǔn)體系包括：電磁發(fā)射(IEC61967系列)、電磁抗擾度(IEC61967系列)、脈沖抗擾度(IEC62215系列)、CAN收發(fā)器EMC評估(IEC62228系列)、集成電路電磁兼容建模(IEC62433系列)等，可以為國內(nèi)MCU提供典型測試標(biāo)準(zhǔn)。

對于MCU，典型的6種測試方法包括：

電磁(EMI)發(fā)射：TEM小室法，1Ω/150Ω直接耦合法，表面掃描法;法拉第籠法，磁場探頭法，IC帶狀線法;

電磁(EMS)抗擾度：TEM小室法，直接射頻功率注入法，大電流注入法;法拉第籠法，IC帶狀線法，表面掃描法;

脈沖抗擾度：同步瞬態(tài)注入法和非同步瞬態(tài)注入法，這兩者注入的脈沖波形有ESD、EFT和浪涌