工業(yè)上使用過(guò)的熱電偶在使用過(guò)程中，熱端易受氧化、腐蝕，在高溫下熱電偶材料易再結(jié)晶，從而熱電偶的特性發(fā)生變化，引起較大的測(cè)量誤差。從熱電阻的測(cè)溫原理可知，被測(cè)溫度的變化是直接通過(guò)熱電阻阻值的變化來(lái)進(jìn)行校正的，因此，熱電阻體的引出線等各種導(dǎo)線電阻的變化會(huì)給溫度測(cè)量帶來(lái)影響。帶定位護(hù)橋的內(nèi)徑表活動(dòng)測(cè)頭測(cè)力和定位護(hù)橋的接觸壓力，定位護(hù)橋在任何位置時(shí)的接觸壓力應(yīng)該大于活動(dòng)測(cè)頭的壓力。

然后將定位護(hù)橋的接觸面與放在測(cè)力裝置上的一個(gè)圓筒形輔助臺(tái)的端面接觸，并向下加壓，當(dāng)定位護(hù)橋壓縮到測(cè)量上限和測(cè)量下限所處的位置時(shí)，分別在儀器測(cè)量裝置上讀數(shù)。測(cè)量結(jié)果與被測(cè)變量的真值之差稱為誤差。任何測(cè)量過(guò)程都不可避免地存在誤差。當(dāng)被變量不隨時(shí)間變化時(shí)，其測(cè)量誤差稱為靜態(tài)誤差。當(dāng)被測(cè)變量隨時(shí)間而變化時(shí)，在測(cè)量過(guò)程中所產(chǎn)生的附加誤差稱為動(dòng)態(tài)誤差。計(jì)量檢測(cè)中，標(biāo)準(zhǔn)節(jié)流裝置無(wú)需個(gè)別校準(zhǔn)，非標(biāo)準(zhǔn)節(jié)流裝置原則上都應(yīng)校準(zhǔn)后才能可靠使用。因此，首先應(yīng)考慮采用標(biāo)準(zhǔn)節(jié)流裝置，當(dāng)它不能滿足時(shí)，再選用其它類型。

測(cè)量結(jié)果與被測(cè)變量的真值之差稱為誤差。任何測(cè)量過(guò)程都不可避免地存在誤差。當(dāng)被變量不隨時(shí)間變化時(shí)，其測(cè)量誤差稱為靜態(tài)誤差。當(dāng)被測(cè)變量隨時(shí)間而變化時(shí)，在測(cè)量過(guò)程中所產(chǎn)生的附加誤差稱為動(dòng)態(tài)誤差。帶定位護(hù)橋的內(nèi)徑表活動(dòng)測(cè)頭測(cè)力和定位護(hù)橋的接觸壓力，定位護(hù)橋在任何位置時(shí)的接觸壓力應(yīng)該大于活動(dòng)測(cè)頭的壓力。將帶定位護(hù)橋的內(nèi)徑表分別在內(nèi)徑尺寸等于內(nèi)徑表的側(cè)來(lái)那個(gè)上限和測(cè)量下限尺寸的光面環(huán)規(guī)內(nèi)，定位護(hù)橋在此兩位置時(shí)，分別作出標(biāo)記。

活動(dòng)測(cè)頭測(cè)力的校準(zhǔn)，把帶定位的護(hù)橋的內(nèi)徑表活動(dòng)測(cè)頭在垂直方位與測(cè)力裝置接觸，并向下加壓，當(dāng)活動(dòng)測(cè)頭壓縮到工作行程起點(diǎn)時(shí)，在測(cè)力裝置上讀數(shù)，然后繼續(xù)壓縮測(cè)頭到工作行程終點(diǎn)，在測(cè)力裝置上讀數(shù)，取其大值作為校準(zhǔn)結(jié)果。但是由于其他因素的影響，實(shí)際幅度分辨率往往略低于DAC的位數(shù)。所以，工程師建議當(dāng)幅度分辨率較低時(shí)，AWG表現(xiàn)波形幅度變化不夠細(xì)致，量化噪聲較大。計(jì)量校準(zhǔn)函數(shù)信號(hào)發(fā)生器是一種寬帶頻率可調(diào)的多波形發(fā)生器，它可以產(chǎn)生正弦波、方波、三角波、鋸齒波等。由于其輸出波形均可用數(shù)學(xué)函數(shù)描述，故得名函數(shù)信號(hào)發(fā)生器。現(xiàn)代函數(shù)信號(hào)發(fā)生器一般具有調(diào)制和VCO控制的功能。